雷達(dá)物位計(jì)是較為*的雷達(dá)式物位測(cè)量?jī)x表，天線(xiàn)被進(jìn)一步優(yōu)化處理。內(nèi)部新型的快速微處理器可以進(jìn)行更高速率的信號(hào)分析處理，使儀表更加適用于固體料、過(guò)程容器或強(qiáng)粉塵易結(jié)晶、結(jié)露場(chǎng)合，測(cè)量*大距離可達(dá)70米。

那么雷達(dá)物位計(jì)利于其優(yōu)勢(shì)如何做到測(cè)量無(wú)死角?下面對(duì)其具體介紹：

1、*小測(cè)量范圍與天線(xiàn)有關(guān)。

2、對(duì)于過(guò)溢保護(hù)，可定義一段*距離附加在盲區(qū)上。

3、測(cè)量范圍超出的動(dòng)作當(dāng)測(cè)量范圍超出時(shí)，儀表輸出為22mA電流。

4、若介質(zhì)為低介電常數(shù)當(dāng)其處于低液位時(shí)，罐低可見(jiàn)，為*測(cè)量精度，一般是建議將零點(diǎn)定在低高度為C的位置。

5、隨濃度不同，泡沫既可以吸收微波，又可以將其反射，在一定的條件下雷達(dá)物位計(jì)也是可以進(jìn)行測(cè)量的。

6、測(cè)量范圍從波束觸及罐低的那一點(diǎn)開(kāi)始計(jì)算，在特殊情況下，若罐低為凹型或錐形，當(dāng)物位低于此點(diǎn)時(shí)無(wú)法進(jìn)行測(cè)量。

7、理論上測(cè)量達(dá)到天線(xiàn)*的位置是可能的，但考慮到腐蝕及粘附的影響，測(cè)量范圍的終值應(yīng)距離天線(xiàn)的*至少100mm。用戶(hù)在選型時(shí)，可以考慮上述中雷達(dá)物位計(jì)的測(cè)量?jī)?yōu)勢(shì)，再結(jié)合實(shí)際需求正確進(jìn)行選擇，使物位計(jì)的功能可以得到*大實(shí)現(xiàn)。